俄自研EUV光刻機(jī)曝光:11.2nm光源,每小時(shí)處理60片12吋晶圓
來源:芯智訊
12月20日消息,據(jù)Cnews報(bào)導(dǎo),俄羅斯已公布自主研發(fā)的光刻機(jī)路線圖,目標(biāo)是打造比ASML 系統(tǒng)更經(jīng)濟(jì)的EUV光刻機(jī)。這些光刻機(jī)將采用波長(zhǎng)為11.2nm的鐳射光源,而非ASML 使用的標(biāo)準(zhǔn)13.5nm波長(zhǎng)。因此,新技術(shù)無法與現(xiàn)有EUV 基礎(chǔ)設(shè)施相容,需要俄羅斯自行開發(fā)配套的曝光生態(tài)系統(tǒng),可能需要數(shù)年甚至十年以上時(shí)間。
該光刻機(jī)開發(fā)計(jì)劃由俄羅斯科學(xué)院微觀結(jié)構(gòu)物理研究所的Nikolay Chkhalo 領(lǐng)導(dǎo),目標(biāo)是制造出性能具競(jìng)爭(zhēng)力且具成本優(yōu)勢(shì)的光刻機(jī)。具體來說,俄羅斯將采用11.2nm的氙(xenon)基鐳射光源,取代ASML 的基于激光轟擊金屬錫(tin)液滴產(chǎn)生EUV光源的系統(tǒng)。Chkhalo 表示,11.2nm的波長(zhǎng)能將分辨率提升約20%,不僅可以簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)并降低光學(xué)元件的成本,還能呈現(xiàn)更精細(xì)的細(xì)節(jié)。此外,該設(shè)計(jì)可減少光學(xué)元件的污染,延長(zhǎng)收集器和保護(hù)膜等關(guān)鍵零件的壽命。
俄羅斯曝光機(jī)還可使用硅基光阻劑,預(yù)期在較短波長(zhǎng)下將具備更出色的性能表現(xiàn)。盡管該光刻機(jī)的晶圓制造產(chǎn)能僅為ASML 設(shè)備的37%,主要因?yàn)槠涔庠垂β蕛H3.6 千瓦,但也足以應(yīng)付小規(guī)模芯片生產(chǎn)需求。
盡管11.2nm波長(zhǎng)仍屬于極端紫外線光(EUV)譜范疇,但這并非單純的小幅調(diào)整。因?yàn)樗泄鈱W(xué)元件包括反射鏡、涂層、光罩設(shè)計(jì)以及光阻劑,都需要針對(duì)新的波長(zhǎng)進(jìn)行特別設(shè)計(jì)與優(yōu)化。因此,鐳射光源、光阻化學(xué)、污染控制及其他支援技術(shù)也須重新設(shè)計(jì),才能確保在11.2nm波長(zhǎng)下的有效運(yùn)作。
以11.2nm波長(zhǎng)為基礎(chǔ)的工具很難直接兼容現(xiàn)有以13.5nm為基礎(chǔ)EUV 架構(gòu)與生態(tài)系統(tǒng),甚至連電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)工具也需要進(jìn)行更新。雖然現(xiàn)有EDA 工具仍可完成邏輯合成、布局和路由等基本步驟,但涉及曝光的關(guān)鍵制程,如光罩資料準(zhǔn)備、光學(xué)鄰近校正(OPC)和解析度增強(qiáng)技術(shù)(RET),則需要重新校準(zhǔn)或升級(jí)為適合11.2nm的新制程模型。
據(jù)報(bào)導(dǎo),該光刻機(jī)的開發(fā)工作將分為三個(gè)階段,第一階段將聚焦于基礎(chǔ)研究、關(guān)鍵技術(shù)辨識(shí)與初步元件測(cè)試;第二階段將制造每小時(shí)可處理60 片200 毫米晶圓的原型機(jī),并整合至國內(nèi)芯片生產(chǎn)線;第三階段的目標(biāo)是打造一套可供工廠使用的系統(tǒng),每小時(shí)可處理60 片300 毫米晶圓。目前還不清楚這些新的曝光工具將支援哪些制程技術(shù),路線圖也未提到各階段完成的時(shí)間表。
編輯:芯智訊-林子
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